Focus sur la détection spectrale et les systèmes d'application optoélectroniques
Système de mesure laser en champ proche
Avec le développement des technologies IoT, IA et 5G, la technologie VCSEL (Vertical Cavity Surface Emitting Laser), en tant que technologie de base des systèmes d'imagerie et de détection 3D, attire de plus en plus l'attention dans des applications telles que la reconnaissance faciale, la détection 3D, la conduite autonome, détection de gestes et VR (réalité virtuelle) / AR (réalité augmentée) / MR (réalité mixte).
LiSen Optics peut fournir aux clients des solutions de détection VCSEL-3D SENSING / TOF, y compris des tests d'intégration spectre / puissance LIV, des tests de caractéristiques en champ proche NF, des tests de caractéristiques en champ lointain FF, des tests de caractéristiques AR / VR des matériaux optiques BRDF / BTDF et des sphères d'intégration spécifiques à VCSEL. Ces solutions permettent de mesurer la distribution et l'uniformité de l'énergie, la longueur d'onde et la puissance spectrales, les mesures en champ proche et lointain pour les dispositifs, modules et puces de plaquette VCSEL / Mini LED / Micro LED afin de répondre à divers besoins d'application personnalisés.
Avec le développement des technologies IoT, IA et 5G, la technologie VCSEL (Vertical Cavity Surface Emitting Laser), en tant que technologie de base des systèmes d'imagerie et de détection 3D, attire de plus en plus l'attention dans des applications telles que la reconnaissance faciale, la détection 3D, la conduite autonome, détection de gestes et VR (réalité virtuelle) / AR (réalité augmentée) / MR (réalité mixte).
LiSen Optics peut fournir aux clients des solutions de détection VCSEL-3D SENSING / TOF, y compris des tests d'intégration spectre / puissance LIV, des tests de caractéristiques en champ proche NF, des tests de caractéristiques en champ lointain FF, des tests de caractéristiques AR / VR des matériaux optiques BRDF / BTDF et des sphères d'intégration spécifiques à VCSEL. Ces solutions permettent de mesurer la distribution et l'uniformité de l'énergie, la longueur d'onde et la puissance spectrales, les mesures en champ proche et lointain pour les dispositifs, modules et puces de plaquette VCSEL / Mini LED / Micro LED afin de répondre à divers besoins d'application personnalisés.
Présentation du produit
Le système de test en champ proche LS-VCS-NF, développé par LiSen Optics spécifiquement pour les tests en champ proche VCSEL, permet de tester les effets des émissions, la distribution d'énergie, la taille des spots et la stabilité des puces VCSEL dans des zones microscopiques spécifiques. Il peut mesurer les statistiques des points d'émission, marquer les points défectueux / anormaux, analyser la cohérence de la puissance optique entre les points d'émission, le diamètre de la taille du faisceau, l'angle de divergence du champ proche et le facteur de qualité du faisceau M2.
Le système de test en champ proche LS-VCS-NF, développé par LiSen Optics spécifiquement pour les tests en champ proche VCSEL, permet de tester les effets des émissions, la distribution d'énergie, la taille des spots et la stabilité des puces VCSEL dans des zones microscopiques spécifiques. Il peut mesurer les statistiques des points d'émission, marquer les points défectueux / anormaux, analyser la cohérence de la puissance optique entre les points d'émission, le diamètre de la taille du faisceau, l'angle de divergence du champ proche et le facteur de qualité du faisceau M2.
Principales caractéristiques techniques
● Gamme spectrale : 400-1000nm / 900-1700nm
Haute résolution des données : utilise une caméra de 91,7 mégapixels pour l'acquisition de données, garantissant une collecte de données haute résolution.
● Chemin optique configurable : Le chemin optique peut faire tourner la roue du filtre en fonction de l'intensité lumineuse et de la puissance, en sélectionnant les atténuateurs : OD0,3-OD4, avec un total de 6 filtres.
● Objectifs interchangeables : Différents objectifs de grossissement peuvent être remplacés au besoin, fournissant des mesures plus précises.
● Mesure laser de taille à micro-faisceau : Capable de mesurer des lasers avec une taille à micro-faisceau : ≥ 10μm avec un objectif 10x, ≥ 5μm avec un objectif 20x.
● Système de chemin optique en champ proche intégré : combine des lentilles d'imagerie directement couplées et des modules de chemin optique dans une conception intégrée.
Surveillance en temps réel : statistiques en temps réel des points d'émission, marquage des points défectueux / anormaux, analyse de cohérence de la puissance optique entre les points d'émission, diamètre de la taille du faisceau, angle de divergence du champ proche et facteur de qualité du faisceau M2,2
Principales caractéristiques techniques
● Gamme spectrale : 400-1000nm / 900-1700nm
Haute résolution des données : utilise une caméra de 91,7 mégapixels pour l'acquisition de données, garantissant une collecte de données haute résolution.
● Chemin optique configurable : Le chemin optique peut faire tourner la roue du filtre en fonction de l'intensité lumineuse et de la puissance, en sélectionnant les atténuateurs : OD0,3-OD4, avec un total de 6 filtres.
● Objectifs interchangeables : Différents objectifs de grossissement peuvent être remplacés au besoin, fournissant des mesures plus précises.
● Mesure laser de taille à micro-faisceau : Capable de mesurer des lasers avec une taille à micro-faisceau : ≥ 10μm avec un objectif 10x, ≥ 5μm avec un objectif 20x.
● Système de chemin optique en champ proche intégré : combine des lentilles d'imagerie directement couplées et des modules de chemin optique dans une conception intégrée.
Surveillance en temps réel : statistiques en temps réel des points d'émission, marquage des points défectueux / anormaux, analyse de cohérence de la puissance optique entre les points d'émission, diamètre de la taille du faisceau, angle de divergence du champ proche et facteur de qualité du faisceau M2,2
Principe technique
Le principe du module de test en champ proche
Principe technique
Mauvais pixel / marque de pixel anormale
 |
 |
Données moyennes de tous les points et sa courbe ajustée |
Données du point sélectionné (point unique) et sa courbe d'ajustement |
Principe technique
 |
 |
Vcsel / Micro / Mini LED |
Détection 3D |
 |
 |
Sécurité des yeux |
Robot de balayage |
Principe technique
Le principe du module de test en champ proche
Principe technique
Mauvais pixel / marque de pixel anormale
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Données moyennes de tous les points et sa courbe ajustée |
Données du point sélectionné (point unique) et sa courbe d'ajustement |
Principe technique
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Vcsel / Micro / Mini LED |
Détection 3D |
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|
Sécurité des yeux |
Robot de balayage |
Indicateurs techniques
Modèle |
LS-VCS-FF |
Gamme spectrale |
400-1000nm / 900-1700nm |
Résolution des pixels |
2592×1944 / 1280×1024 |
Taille cible |
1/2.8"(5,184 mm x 3,888 mm) / 1 / 2" (6,4 mm x 5,12 mm) |
Taille des pixels |
2,0 μm / 5,0 μm |
Perperpendicularité |
<1° |
Précision de positionnement |
0,01 mm |
Fonctions de test logiciel |
Angle de divergence du champ lointain, DIP (défaut du centre du spot) |
Module et plateforme |
Module de chemin optique en champ lointain et plate-forme de montage d'échantillons |
Dessin dimensionnel LS-VCS-NF ( Unité : mm )
Indicateurs techniques
Modèle |
LS-VCS-FF |
Gamme spectrale |
400-1000nm / 900-1700nm |
Résolution des pixels |
2592×1944 / 1280×1024 |
Taille cible |
1/2.8"(5,184 mm x 3,888 mm) / 1 / 2" (6,4 mm x 5,12 mm) |
Taille des pixels |
2,0 μm / 5,0 μm |
Perperpendicularité |
<1° |
Précision de positionnement |
0,01 mm |
Fonctions de test logiciel |
Angle de divergence du champ lointain, DIP (défaut du centre du spot) |
Module et plateforme |
Module de chemin optique en champ lointain et plate-forme de montage d'échantillons |
Dessin dimensionnel LS-VCS-NF ( Unité : mm )
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